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キーワード
Auger Depth Profiling Analysis (1)
GaAs/AlAs Superlattice (1)
Inclined Holder (1)
Si/Ge multiple delta-doped layers (1)
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application/pdf (1)
ライセンス: In Copyright
キーワード: Auger Depth Profiling Analysis
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1 件のレコードが見つかりました。
High-Sensitivity and High-Depth Resolution Auger Depth Profiling Using an Inclined Holder based on Geometric Characteristics of Auger Electron Spectroscopy Apparatus Equipped with Concentric Hemispherical Analyzer
ジャーナル論文
著者
Tanuma, Shigeo
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0003-2628-9941
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Tanuma, Shigeo
;
Ogiwara, Toshiya
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0002-7376-6571
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Ogiwara, Toshiya
;
Kim, Kyung Joong
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0001-5559-9784
(unauthenticated)
Kim, Kyung Joong
;
Nagatomi, Takaharu
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0002-3629-638X
(unauthenticated)
Nagatomi, Takaharu
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis
,
Si/Ge multiple delta-doped layers
,
GaAs/AlAs Superlattice
,
Inclined Holder
刊行年月日
2016-04-03
更新時刻
2024-01-05 22:13:47 +0900
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis
(1)
GaAs/AlAs Superlattice
(1)
Inclined Holder
(1)
Si/Ge multiple delta-doped layers
(1)
RDEメタデータ定義
RDE送り状
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