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27 件のレコードが見つかりました。

MINAMI_ISOEN2024_fin.pdf
Detection of acetone in milk through odor towards monitoring of ketosis in dairy cows
データセット
著者
ORCID SAMURAI ;
Masaaki Matoba (author) (この著者で検索)
;
Ryoh Nakakubo (author) (この著者で検索)
; ORCID SAMURAI
キーワード
milk, acetone, nanomechanical sensors, Membrane-type Surface stress Sensor (MSS), dairy cows, ketosis
刊行年月日
2024-05-12
更新時刻
2024-11-19 10:31:53 +0900
Keyun Gu IEEE-NEMS 20231214-check Liao-R.docx
Ultrahigh Responsivity of Diamond-based Solar-blind Photodetectors Using Hydrogen Plasma Treatment
データセット
著者
Keyun Gu (author) (この著者で検索)
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Zilong Zhang (author) (この著者で検索)
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Guo Chen (author) (この著者で検索)
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Liwen Sang (author) (この著者で検索)
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Jian Huang (author) (この著者で検索)
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Yasuo Koide (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Meiyong Liao (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Diamond, photodetector
刊行年月日
2024-05-02
更新時刻
2024-10-11 14:30:31 +0900
2023-PVSC-Abstract-SnPSCs.pdf
Effect of Bidentate Ligand Additive in Tin Perovskite Solar Cells
データセット
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
Sn-perovskite, Sn-oxidation, bidentate ligand, Stability, Device
刊行年月日
2023-06-11
更新時刻
2024-09-17 16:30:25 +0900
Dataset
べき乗則で解釈されるスペクトルの閾値及びべき乗数の自動解析方法
データセット
著者
柳生 進二郎 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
ORCID SAMURAI ;
吉武 道子 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
ORCID SAMURAI ;
長田 貴弘 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
ORCID SAMURAI
キーワード
threshold, Power Law, Automatic estimation methods
刊行年月日
2024-03-31
更新時刻
2024-04-26 16:30:10 +0900
HfO2-Fig12-Work-20230803.pdf
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:13:20 +0900
HfO2-Fig11-Work-20230710.pdf
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-04-07 22:57:41 +0900
HfO2-Fig10-Work-20230606.pdf
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:41 +0900
HfO2-Fig9-Work-20230518.pdf
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-10-08 12:20:27 +0900
HfO2-Fig5-Work-20230419.pdf
Raw data files for Fig. 5 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-03-30 18:50:38 +0900
HfO2-Fig6-Work-20230118.pdf
Raw data files for Fig. 6 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-03-30 18:50:25 +0900