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Dual quantum spin Hall insulator by density-tuned correlations in TaIrTe4
- ジャーナル論文
- 著者
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;Jian Tang (author) (この著者で検索);Thomas Siyuan Ding (author) (この著者で検索);Hongyu Chen (author) (この著者で検索);Anyuan Gao (author) (この著者で検索);Tiema Qian (author) (この著者で検索);Zumeng Huang (author) (この著者で検索);Zhe Sun (author) (この著者で検索);Xin Han (author) (この著者で検索);Alex Strasser (author) (この著者で検索);Jiangxu Li (author) (この著者で検索);Michael Geiwitz (author) (この著者で検索);Mohamed Shehabeldin (author) (この著者で検索);Vsevolod Belosevich (author) (この著者で検索);Zihan Wang (author) (この著者で検索);Yiping Wang (author) (この著者で検索)Kenji Watanabe (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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Takashi Taniguchi (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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;David C. Bell (author) (この著者で検索);Ziqiang Wang (author) (この著者で検索);Liang Fu (author) (この著者で検索);Yang Zhang (author) (この著者で検索);Xiaofeng Qian (author) (この著者で検索);Kenneth S. Burch (author) (この著者で検索);Youguo Shi (author) (この著者で検索);Ni Ni (author) (この著者で検索);Guoqing Chang (author) (この著者で検索);Su-Yang Xu (author) (この著者で検索)Qiong Ma (author) (この著者で検索) - キーワード
- Quantum Spin Hall (QSH) Insulator, Electron Correlations, Charge Density Wave (CDW)
- 刊行年月日
- 2024-04-18
- 更新時刻
- 2025-09-05 16:30:37 +0900
Motion of Two-Dimensional Excitons in Momentum Space Leads to Pseudospin Distribution Narrowing on the Bloch Sphere
- ジャーナル論文
- 著者
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;Garima Gupta (author) (この著者で検索)Kenji Watanabe (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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Takashi Taniguchi (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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Kausik Majumdar (author) (この著者で検索)
- キーワード
- 2D materials, Exciton Pseudospin, Valley Decoherence, Motional Narrowing, Polarization Contrast, MoS2
- 刊行年月日
- 2024-05-08
- 更新時刻
- 2025-07-29 12:30:27 +0900
Preprocessing Method for Spectra Interpreted by the Power Law Using Segment Regression
- ジャーナル論文
- 著者
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Shinjiro Yagyu (author) (この著者で検索)
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Michiko Yoshitake (author) (この著者で検索)
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Takahiro Nagata (author) (この著者で検索)
- キーワード
- Photoelectron Yield Spectroscopy:, segment regression, Power Law
- 刊行年月日
- 2024-11-26
- 更新時刻
- 2024-12-04 14:52:47 +0900
べき乗則で解釈されるスペクトルの閾値及びべき乗数の自動解析方法
- データセット
- 著者
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柳生 進二郎 (author) (この著者で検索)物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
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吉武 道子 (author) (この著者で検索)物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
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長田 貴弘 (author) (この著者で検索)物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
- キーワード
- threshold, Power Law, Automatic estimation methods
- 刊行年月日
- 2024-03-31
- 更新時刻
- 2024-04-26 16:30:10 +0900
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:13:20 +0900
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-04-07 22:57:41 +0900
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:12:41 +0900
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-10-08 12:20:27 +0900
Raw data files for Fig. 5 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-03-30 18:50:38 +0900