Yuichi Oshima
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Encarnación G. Víllora
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Kiyoshi Shimamura
代替タイトル: HVPE法によるScNの成長と評価
説明:
(abstract)ScClxとNH3との反応によるHVPEでScNを育成した。成長速度は、原料分圧の増大に伴って最初は増加するが、やがて減少に転じ、最大成長速度は5um/h程度であった。基板は種々試みたが、サファイア(10-12)と(10-10)を用いたときに単一配向のScN(100)および(110)がそれぞれ得られた。エピ表面は肉眼で鏡面であり、約2.1eVのバンドギャップに対応して真紅の外観を呈する。結晶性は、成長膜厚の増大に伴って大幅に改善し、ScN(110)膜の場合、X線ロッキングカーブ(XRC)半値幅は厚さ40umで98 arcsecに到達した。ホール測定の結果は、従来の報告と同様に強いn型を示したが、残留キャリア濃度は1e18 - 1e20 cm-3と従来報告値より大幅に低減し、移動度もそれに伴って高い値が得られた。
権利情報:
刊行年月日: 2014-04-21
出版者: AIP Publishing
掲載誌:
研究助成金:
原稿種別: 出版者版 (Version of record)
MDR DOI:
公開URL: https://doi.org/10.1063/1.4871656
関連資料:
その他の識別子:
連絡先:
更新時刻: 2024-01-30 16:35:16 +0900
MDRでの公開時刻: 2024-01-31 08:30:14 +0900
ファイル名 | サイズ | |||
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ファイル名 |
Hydride vapor phase epitaxy and characterization of highquality ScN epilayers.pdf
(サムネイル)
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サイズ | 1.52MB | 詳細 |