論文 Hydride Vapor Phase Epitaxy and characterization of High-Quality ScN epilayers

Yuichi Oshima SAMURAI ORCID ; Encarnación G. Víllora ; Kiyoshi Shimamura SAMURAI ORCID

コレクション

引用
Yuichi Oshima, Encarnación G. Víllora, Kiyoshi Shimamura. Hydride Vapor Phase Epitaxy and characterization of High-Quality ScN epilayers. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS. 2014, 115 (15), 153508-153508.
SAMURAI

代替タイトル: HVPE法によるScNの成長と評価

説明:

(abstract)

ScClxとNH3との反応によるHVPEでScNを育成した。成長速度は、原料分圧の増大に伴って最初は増加するが、やがて減少に転じ、最大成長速度は5um/h程度であった。基板は種々試みたが、サファイア(10-12)と(10-10)を用いたときに単一配向のScN(100)および(110)がそれぞれ得られた。エピ表面は肉眼で鏡面であり、約2.1eVのバンドギャップに対応して真紅の外観を呈する。結晶性は、成長膜厚の増大に伴って大幅に改善し、ScN(110)膜の場合、X線ロッキングカーブ(XRC)半値幅は厚さ40umで98 arcsecに到達した。ホール測定の結果は、従来の報告と同様に強いn型を示したが、残留キャリア濃度は1e18 - 1e20 cm-3と従来報告値より大幅に低減し、移動度もそれに伴って高い値が得られた。

権利情報:

  • In Copyright
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キーワード: ScN, HVPE

刊行年月日: 2014-04-21

出版者: AIP Publishing

掲載誌:

  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS (ISSN: 00218979) vol. 115 issue. 15 p. 153508-153508

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原稿種別: 出版者版 (Version of record)

MDR DOI:

公開URL: https://doi.org/10.1063/1.4871656

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更新時刻: 2024-01-30 16:35:16 +0900

MDRでの公開時刻: 2024-01-31 08:30:14 +0900

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