Yuichi Oshima
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Encarnación G. Víllora
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Kiyoshi Shimamura
代替タイトル: HVPE法によるScNの成長と評価
説明:
(abstract)ScClxとNH3との反応によるHVPEでScNを育成した。成長速度は、原料分圧の増大に伴って最初は増加するが、やがて減少に転じ、最大成長速度は5um/h程度であった。基板は種々試みたが、サファイア(10-12)と(10-10)を用いたときに単一配向のScN(100)および(110)がそれぞれ得られた。エピ表面は肉眼で鏡面であり、約2.1eVのバンドギャップに対応して真紅の外観を呈する。結晶性は、成長膜厚の増大に伴って大幅に改善し、ScN(110)膜の場合、X線ロッキングカーブ(XRC)半値幅は厚さ40umで98 arcsecに到達した。ホール測定の結果は、従来の報告と同様に強いn型を示したが、残留キャリア濃度は1e18 - 1e20 cm-3と従来報告値より大幅に低減し、移動度もそれに伴って高い値が得られた。
権利情報:
This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and AIP Publishing. This article appeared in Yuichi Oshima et al., J. Appl. Phys. 115, 153508 (2014) and may be found at https://doi.org/10.1063/1.4871656.
刊行年月日: 2014-04-21
出版者: AIP Publishing
掲載誌:
研究助成金:
原稿種別: 出版者版 (Version of record)
MDR DOI:
公開URL: https://doi.org/10.1063/1.4871656
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その他の識別子:
連絡先:
更新時刻: 2024-01-30 16:35:16 +0900
MDRでの公開時刻: 2024-01-31 08:30:14 +0900
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Hydride vapor phase epitaxy and characterization of highquality ScN epilayers.pdf
(サムネイル)
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サイズ | 1.52MB | 詳細 |