Yong-Lie Sun
(National Institute for Materials Science
)
;
Wipakorn Jevasuwan
(National Institute for Materials Science
)
;
Naoki Fukata
(National Institute for Materials Science
)
説明:
(abstract)トップダウン手法を利用してGeナノワイヤの配列制御と縦型トランジスタチャネル実現のためのGe/Siコアシェルヘテロ接合形成に関する研究成果
権利情報:
キーワード: Ge nanowire, Nanoimprint lithography, Hole gas, Core–shell
刊行年月日: 2023-10-11
出版者: Elsevier BV
掲載誌:
研究助成金:
原稿種別: 著者最終稿 (Accepted manuscript)
MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.4678
公開URL: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2023.158656
関連資料:
その他の識別子:
連絡先:
更新時刻: 2025-10-21 15:50:34 +0900
MDRでの公開時刻: 2025-10-21 15:45:52 +0900
| ファイル名 | サイズ | |||
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| ファイル名 |
Top-down fabrication of Ge nanowire arrays by nanoimprint lithography and hole gas accumulation in GeSi core–shell nanowires.pdf
(サムネイル)
application/pdf |
サイズ | 1.3MB | 詳細 |