Index Catalog // MDR

Description/Abstract:: In response to a progress of data-driven science in the materials science field, NIMS (National Institute for Materials Science) started ...
Keyword:: 研究データ, データフロー, 相互利用 FAIR, 材料データプラットフォーム DICE, データリポジトリ, メタデータスキーマ, and マテリアル・インフォマティクス
Resource Type:: Article
Author:: TANIFUJI, Mikiko and YOSHIKAWA, Hideki
Journal:: 情報処理学会論文誌デジタルプラクティス
Date Uploaded:: 25/08/2021
Date Modified:: 25/08/2021

Description/Abstract:: 磁気ヘッド材料として用いられているFeNi:5 nm/CoFeB:3 nm/FeNi:10 nm多層薄膜の深さ方向組成分布を調べるために，極低角度入射イオンビームを用いたオージェ深さ方向分析によりイオン加速電圧0.5 kVおよび3.0 kVのスパッタ条件で分析を行った．その...
Keyword:: Auger Depth Profiling Analysis, Ultra Low Angle Incidence Ion Beam, and FeNi/CoFeB/FeNi Thin Film
Material/Specimen:: FeNi/CoFeB/FeNi Thin Film
Resource Type:: Article
Author:: Ogiwara, Toshiya, Yanagiuchi, Katsuaki, and Yoshikawa, Hideki
Journal:: Journal of Surface Analysis
Date Uploaded:: 28/05/2021
Date Modified:: 04/06/2021

Description/Abstract:: We have investigated the Auger depth profiling analysis of HfO2/Si by the glancing-angle ion beam sputtering method at an incident angle ...
Keyword:: Auger Depth Profiling analysis, HfO2/Si, and Ultra Low Angle Incidence Ion Beam
Material/Specimen:: HfO2
Resource Type:: Article
Author:: Yoshikawa, Hideki, Ogiwara, Toshiya, and Nagata, Takahiro
Journal:: Journal of Surface Analysis
Date Uploaded:: 25/05/2021
Date Modified:: 26/05/2021

Description/Abstract:: With the development of data-driven research, an efficient and practical data collection system is required. National Institute for Mater...
Keyword:: データアーキテクチャ, IoT, データ収集システム, メタデータ, and XML スキーマ
Resource Type:: Article
Author:: MATSUNAMI, Shigeyuki, MATSUDA, Asahiko, CHIKYOW, Toyohiro, HARADA, Yoshitomo, and YOSHIKAWA, Hideki
Journal:: 情報処理学会論文誌デジタルプラクティス
Date Uploaded:: 26/08/2021
Date Modified:: 26/08/2021

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