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Description/Abstract:: 材料分野でのデータ駆動型の材料研究の進展のため、物質･材料研究機構（National Institute for Materials Science, NIMS）は材料データプラットフォームシステムの開発に2017年に着手し、2020年からサービス名 DICE として所...
Keyword:: 研究データ, データフロー, FAIR, DICE, マテリアル・インフォマティクス, 語彙管理, and データ構造化
Resource Type:: Presentation
Author:: TANIFUJI, Mikiko, MATSUDA, Asahiko, and YOSHIKAWA, Hideki
Date Uploaded:: 02/03/2022
Date Modified:: 02/03/2022

Description/Abstract:: With the development of data-driven research, an efficient and practical data collection system is required. National Institute for Mater...
Keyword:: データアーキテクチャ, IoT, データ収集システム, メタデータ, and XML スキーマ
Resource Type:: Article
Author:: MATSUNAMI, Shigeyuki, MATSUDA, Asahiko, CHIKYOW, Toyohiro, HARADA, Yoshitomo, and YOSHIKAWA, Hideki
Journal:: 情報処理学会論文誌デジタルプラクティス
Date Uploaded:: 26/08/2021
Date Modified:: 26/08/2021

Description/Abstract:: In response to a progress of data-driven science in the materials science field, NIMS (National Institute for Materials Science) started ...
Keyword:: 研究データ, データフロー, 相互利用 FAIR, 材料データプラットフォーム DICE, データリポジトリ, メタデータスキーマ, and マテリアル・インフォマティクス
Resource Type:: Article
Author:: TANIFUJI, Mikiko and YOSHIKAWA, Hideki
Journal:: 情報処理学会論文誌デジタルプラクティス
Date Uploaded:: 25/08/2021
Date Modified:: 25/08/2021

Description/Abstract:: 磁気ヘッド材料として用いられているFeNi:5 nm/CoFeB:3 nm/FeNi:10 nm多層薄膜の深さ方向組成分布を調べるために，極低角度入射イオンビームを用いたオージェ深さ方向分析によりイオン加速電圧0.5 kVおよび3.0 kVのスパッタ条件で分析を行った．その...
Keyword:: Auger Depth Profiling Analysis, Ultra Low Angle Incidence Ion Beam, and FeNi/CoFeB/FeNi Thin Film
Material/Specimen:: FeNi/CoFeB/FeNi Thin Film
Resource Type:: Article
Author:: Ogiwara, Toshiya, Yanagiuchi, Katsuaki, and Yoshikawa, Hideki
Journal:: Journal of Surface Analysis
Date Uploaded:: 28/05/2021
Date Modified:: 04/06/2021

Description/Abstract:: We have investigated the Auger depth profiling analysis of HfO2/Si by the glancing-angle ion beam sputtering method at an incident angle ...
Keyword:: Auger Depth Profiling analysis, HfO2/Si, and Ultra Low Angle Incidence Ion Beam
Material/Specimen:: HfO2
Resource Type:: Article
Author:: Yoshikawa, Hideki, Ogiwara, Toshiya, and Nagata, Takahiro
Journal:: Journal of Surface Analysis
Date Uploaded:: 25/05/2021
Date Modified:: 26/05/2021

Description/Abstract:: 実験・計算・データ科学を融合させた材料の研究開発を推進するマテリアルズインフォマティクス(MI)が推進されているが、実験データの収集については既存データベースのインポートや出版済み論文のデータマイニングに限られる場合が多い。効果的な MI のためには各種装置から自動的に実験...
Keyword:: FlashAir, IoT, Wi-Fi, and data transfer
Resource Type:: Presentation
Author:: MATSUDA, Asahiko, YOSHIKAWA, Hideki, and CHIKYOW, Toyohiro
Date Uploaded:: 23/10/2020
Date Modified:: 01/07/2021

Description/Abstract:: 電子線マイクロアナライザーは広く材料の分析に用いられ，定量分析法はZAF法としてほぼ確立されている．しかし，Mg-Ge合金においては，定量分析の結果MgとGeの濃度の合計120wt.% と異常な値を示した．しかも電子線の加速電圧が高くなるに従ってMgの定量値が上昇する．こ...
Keyword:: Mg-Ge alloy, ZAF, electron probe microanalyzer, and mass absorption coefficient
Resource Type:: Article
Author:: Nishio, Mitsuaki, Imai, Motoharu, Tanuma, Shigeo, Yoshikawa, HIdeki, and Isoda, Yukihiro
Journal:: Journal of Surface Analysis
Date Uploaded:: 20/07/2020
Date Modified:: 22/07/2020

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