Search Constraints
Search Results
Select an image to start the slideshow
InP/GaInAs多層膜のAES深さ方向分析のラウンドロビン試験報告(I)
1 of 6
試料冷却法を併用したAES深さ方向分析によるSiO2/Si熱酸化膜の分析
2 of 6
High-Sensitivity and High-Depth Resolution Auger Depth Profiling Using an Inclined Holder based on Geometric Characteristics of Auger Electron Spectroscopy Apparatus Equipped with Concentric Hemispherical Analyzer
3 of 6
Arイオンスパッタリングされた各種化合物半導体表面のSEM観察
4 of 6
InP/GaInAsP多層膜におけるAES深さ分解能の温度依存性
5 of 6
電子線マイクロアナライザーによるMg-Ge合金の定量 -Mg Kαに対するGeの質量吸収係数の検討- and Electron microprobe analysis of Mg-Ge alloy -Examination of the mass absorption coefficient of Ge for MgKα–
6 of 6