3 件のレコードが見つかりました。
Investigation of Deep States in GaN Metal-Oxide-Semiconductor Interfaces
- ジャーナル論文
- 著者
-
Yoshihiro Irokawa (author) (この著者で検索)
;
Mamoru Usami (author) (この著者で検索)
https://orcid.org/0009-0002-3188-7380
(unauthenticated)
;
Jun Uzuhashi (author) (この著者で検索)
;
Tadakatsu Ohkubo (author) (この著者で検索)
;
Toshihide Nabatame (author) (この著者で検索)
;
Yasuo Koide (author) (この著者で検索)
- キーワード
- GaN
- 刊行年月日
- 2026-05-01
- 更新時刻
- 2026-05-13 10:14:20 +0900
Observation of Atomic-Scale Structural Changes in Al2O3/GaN Interfacial Layers Prepared with a Dummy-SiO2 Process
- ジャーナル論文
- 著者
-
Jun Uzuhashi (author) (この著者で検索)
;
Yoshihiro Irokawa (author) (この著者で検索)
;
Toshihide Nabatame (author) (この著者で検索)
;
Tadakatsu Ohkubo (author) (この著者で検索)
;
Yasuo Koide (author) (この著者で検索)
- キーワード
- transmission electron microscopy, metal-oxide-semiconductor
- 刊行年月日
- 2025-08-01
- 更新時刻
- 2025-08-26 11:15:20 +0900
Communication—A Powerful Method to Improve Dielectric/GaN Interface Properties: A Dummy SiO2 Process
- ジャーナル論文
- 著者
-
Yoshihiro Irokawa (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
Toshihide Nabatame (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
;Tomomi Sawada (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science;Manami Miyamoto (author) (この著者で検索);Hiromi Miura (author) (この著者で検索)Kazuhito Tsukagoshi (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
Yasuo Koide (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- GaN
- 刊行年月日
- 2024-08-01
- 更新時刻
- 2024-09-02 12:30:27 +0900