3 件のレコードが見つかりました。
Experimental investigation and simulation of SEM image intensity behaviors for developing thickness-controlled S/TEM lamella preparation via FIB-SEM
- ジャーナル論文
- 著者
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Jun Uzuhashi (author) (この著者で検索)
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;Yuanzhao Yao (author) (この著者で検索)Tadakatsu Ohkubo (author) (この著者で検索)
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Takashi Sekiguchi (author) (この著者で検索) - キーワード
- transmission electron microscopy, scanning electron microscopy, focused ion beam
- 刊行年月日
- 2025-08-01
- 更新時刻
- 2026-01-31 16:30:04 +0900
Ultrathin specimen preparation by a low energy Ar ion milling method
- ジャーナル論文
- 著者
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Masanori Mitome (author) (この著者で検索)
- キーワード
- Ar-ion milling, sample preparation, ultrathin specimen, low-energy ion beam, gamma-Ga2O3, (Zn, Cr) Te
- 刊行年月日
- 2012-11-14
- 更新時刻
- 2024-03-05 08:30:19 +0900
Transport of intensity equation method and its applications
- ジャーナル論文
- 著者
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Masanori Mitome (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- transport of intensity equation, phase retrieval, boundary conditions, quantitative measurements
- 刊行年月日
- 2021-02-16
- 更新時刻
- 2024-03-04 12:30:23 +0900