キーワード: electron microscopy
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2 件のレコードが見つかりました。

Dataset
Ptychographical reconstruction code by Wigner Distribution Deconvolution （WDD）
ソフトウェア
著者
Nakazawa Katsuaki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science ICYS
ORCID SAMURAI ;
Mitsuishi Kazutaka (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science Research Center for Advanced Measurement and Characterization
ORCID SAMURAI
キーワード
ptychography, 4DSTEM, electron microscopy, Wigner distribution deconvolution, aberration correction
刊行年月日
2022-11-30
更新時刻
2023-02-03 17:43:11 +0900
sciadv.adk1874.pdf
Atom-by-atom imaging of moiré transformations in 2D transition metal dichalcogenides
ジャーナル論文
著者
Yichao Zhang (author) (この著者で検索)
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Ji-Hwan Baek (author) (この著者で検索)
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Chia-Hao Lee (author) (この著者で検索)
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Yeonjoon Jung (author) (この著者で検索)
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Seong Chul Hong (author) (この著者で検索)
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Gillian Nolan (author) (この著者で検索)
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Kenji Watanabe (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Takashi Taniguchi (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Gwan-Hyoung Lee (author) (この著者で検索)
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Pinshane Y. Huang (author) (この著者で検索)
キーワード
Atomic-scale mechanisms, moiré materials, electron microscopy
刊行年月日
2024-03-29
更新時刻
2025-02-23 22:46:14 +0900