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データセット
HeuslerDB_elecBand_ver1.0
データセット
著者
Terumasa Tadano (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science Spin Theory Group, Research Center for Magnetic and Spintronic Materials
ORCID SAMURAI
キーワード
Heusler alloys, Density functional theory, Band structure
刊行年月日
2025-07-16
更新時刻
2025-10-06 16:30:11 +0900
データセット
HeuslerDB_elecDOS_ver1.0
データセット
著者
Terumasa Tadano (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science Spin Theory Group, Research Center for Magnetic and Spintronic Materials
ORCID SAMURAI
キーワード
Heusler alloys
刊行年月日
2025-07-16
更新時刻
2025-10-06 16:30:20 +0900
Supporting_information_250901.pdf
Quantifying the Thresholds of the Phospholipid Surface Density for Nonspecific Protein Adsorption and Desorption at the Triacylglycerol/Water Interface
データセット
著者
ORCID SAMURAI
キーワード
Lipid droplets, triacylglycerol, oil/water interface, protein
刊行年月日
2025-09-23
更新時刻
2025-09-24 16:30:26 +0900
Dataset
DICE common message format schema
データセット
コレクション
The history of DICE and NIMS Digital Library
著者
Materials Data Platform Center (author) (この著者で検索)
キーワード
Materials informatics, Data management, System architecture, Metadata
刊行年月日
2020-07-22
更新時刻
2022-10-03 01:55:22 +0900
Dataset
Calculated crystal structures of formamidinium–lead–chloride–dimethyl sulfoxide and related compounds
データセット
著者
Noriko Saito (author) (この著者で検索)
Research Center for Functional Materials/Electric and Electronic Materials Field/Ceramics Surface and Interface Group
ORCID SAMURAI ;
Yoshitaka Matsushita (author) (この著者で検索)
Research Network and Facility Services Division/Materials Analysis Station
ORCID SAMURAI ;
Takeo Ohsawa (author) (この著者で検索)
Research Center for Functional Materials/Electric and Electronic Materials Field/Electroceramics Group
ORCID SAMURAI ;
Hiroyo Segawa (author) (この著者で検索)
Research Center for Functional Materials/Electric and Electronic Materials Field/Electroceramics Group
ORCID SAMURAI ;
Naoki Ohashi (author) (この著者で検索)
Research Center for Functional Materials/Electric and Electronic Materials Field/Electroceramics Group
ORCID SAMURAI
キーワード
hybrid halide, formamidinium, dimethyl sulfoxide (DMSO), lead halide
刊行年月日
2022-11-03
更新時刻
2024-01-05 22:13:14 +0900
toast-0.6.0-manual-0.8-en.pdf
TOAST: Template Oriented Atomic Simulation Toolkit
データセット
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
CompES-X, toolkit, First-principles calculation, atomic simulation
刊行年月日
2020-11-20
更新時刻
2022-10-03 01:26:50 +0900
HfO2-Fig12-Work-20230803.pdf
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:13:20 +0900
HfO2-Fig11-Work-20230710.pdf
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-04-07 22:57:41 +0900
HfO2-Fig10-Work-20230606.pdf
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:41 +0900
HfO2-Fig9-Work-20230518.pdf
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-10-08 12:20:27 +0900