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Investigation of Deep States in GaN Metal-Oxide-Semiconductor Interfaces
- ジャーナル論文
- 著者
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Yoshihiro Irokawa (author) (この著者で検索)
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Mamoru Usami (author) (この著者で検索)
https://orcid.org/0009-0002-3188-7380
(unauthenticated)
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Jun Uzuhashi (author) (この著者で検索)
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Tadakatsu Ohkubo (author) (この著者で検索)
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Toshihide Nabatame (author) (この著者で検索)
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Yasuo Koide (author) (この著者で検索)
- キーワード
- GaN
- 刊行年月日
- 2026-05-01
- 更新時刻
- 2026-05-13 10:14:20 +0900
Classification for transmission electron microscope images from different amorphous states using persistent homology
- ジャーナル論文
- 著者
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Fumihiko Uesugi (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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Masashi Ishii (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- TEM image simulation, GaN, persistent homology, Amorphous structure
- 刊行年月日
- 2022-06-06
- 更新時刻
- 2024-07-04 16:32:11 +0900