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475 件のレコードが見つかりました。

データセット
Benchmark Dataset used in the paper "Fast Evaluation of Unbiased Atomic Forces in ab initio Variational Monte Carlo via the Lagrangian Technique"
データセット
著者
Kosuke Nakano (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science (NIMS) Center for Basic Research on Materials (CBRM)
ORCID SAMURAI ;
Stefano Battaglia (author) (この著者で検索)
University of Zurich (UZH) Department of Chemistry
;
Jürg Hutter (author) (この著者で検索)
University of Zurich (UZH) Department of Chemistry
キーワード
Variational Monte Carlo, Atomic forces, rMD17
刊行年月日
更新時刻
2026-01-28 08:30:04 +0900
Dataset
Machine learning prediction of coordination energies for alkali group elements in battery electrolyte solvents
データセット
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ;
IGARASHI, Yasuhiko (author) (この著者で検索)
ORCID ;
NAKAYAMA, Tomofumi (author) (この著者で検索)
ORCID ; ORCID SAMURAI ;
OKADA, Masato (author) (この著者で検索)
ORCID
キーワード
quantum chemistry, electrolyte, battery
刊行年月日
2019-11-18
更新時刻
2024-01-05 22:13:39 +0900
Dataset
Supercon 2 Dataset
データセット
著者
ORCID
キーワード
superconductors, machine learning, dataset, tdm, materials science
刊行年月日
2022-09-10
更新時刻
2022-10-18 10:11:01 +0900
toast-0.6.0-manual-0.8-en.pdf
TOAST: Template Oriented Atomic Simulation Toolkit
データセット
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
CompES-X, toolkit, First-principles calculation, atomic simulation
刊行年月日
2020-11-20
更新時刻
2022-10-03 01:26:50 +0900
Dataset
Leveraging Segmentation of Physical Units through a Newly Open Source Corpus
データセット
著者
ORCID ; ORCID ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID
キーワード
刊行年月日
2019-10-25
更新時刻
2022-10-03 01:25:01 +0900
HfO2-Fig12-Work-20230803.pdf
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:13:20 +0900
HfO2-Fig11-Work-20230710.pdf
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-04-07 22:57:41 +0900
HfO2-Fig10-Work-20230606.pdf
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:41 +0900
HfO2-Fig9-Work-20230518.pdf
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-10-08 12:20:27 +0900
HfO2-Fig5-Work-20230419.pdf
Raw data files for Fig. 5 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-03-30 18:50:38 +0900