FY 2001 Proceedings of Functionally Gradient Materials (FGM 2001)
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- functionally graded materials
- 刊行年月日
- 更新時刻
- 2022-10-03 01:46:08 +0900
FY 2000 Proceedings of Functionally Gradient Materials (FGM 2000)
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National Institute for Materials Science (author) (この著者で検索)
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- functionally graded materials
- 刊行年月日
- 更新時刻
- 2022-10-03 01:23:48 +0900
Functionally Graded Materials VII (FGM2002) (pp.1-212)
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- functionally graded materials
- 刊行年月日
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- 2022-10-03 02:08:30 +0900
Functionally Graded Materials (FGM2000) (pp.3-404)
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- functionally graded materials
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- 2022-10-03 02:05:32 +0900
Functionally Graded Materials VII (FGM2002) (pp.213-415)
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- functionally graded materials
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- 2022-10-03 02:01:08 +0900
3rd International Symposium on Structural and Functional Gradient Materials FGM'94 PROCEEDINGS (pp.247-494)
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- functionally graded materials
- 刊行年月日
- 更新時刻
- 2022-10-03 01:25:07 +0900
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
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- 著者
-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:13:20 +0900
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
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-
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- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-04-07 22:57:41 +0900
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
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-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:12:41 +0900
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
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-
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-10-08 12:20:27 +0900