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Thickness Mapping and Layer Number Identification of Exfoliated van der Waals Materials by Fourier Imaging Micro-Ellipsometry
- 論文
- 著者
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Ralfy Kenaz
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Saptarshi Ghosh
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Pradheesh Ramachandran
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Kenji Watanabe
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Takashi Taniguchi
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Hadar Steinberg
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Ronen Rapaport
- キーワード
- Spectroscopic ellipsometry, thickness mapping, transition metal dichalcogenides
- 刊行年月日
- 2023-05-23
- 更新時刻
- 2025-02-14 12:30:58 +0900
Optical constants of MgxZn1-xO
- データセット
- 著者
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Yusuke Kozuka
- キーワード
- Optical constants, Spectroscopic ellipsometry, Zinc oxide
- 刊行年月日
- 更新時刻
- 2025-03-05 08:30:09 +0900