27 件のレコードが見つかりました。 21件目から27件目まで表示します。

HfO2-Fig6-Work-20230118.pdf
Raw data files for Fig. 6 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-03-30 18:50:25 +0900
s43588-021-00097-w.pdf
Evidence-based recommender system for high-entropy alloys
ジャーナル論文
著者
Minh-Quyet Ha (author) (この著者で検索)
;
Duong-Nguyen Nguyen (author) (この著者で検索)
;
Viet-Cuong Nguyen (author) (この著者で検索)
;
Takahiro Nagata (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Toyohiro Chikyow (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Hiori Kino (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID ;
Takashi Miyake (author) (この著者で検索)
;
Thierry Denœux (author) (この著者で検索)
;
Van-Nam Huynh (author) (この著者で検索)
;
Hieu-Chi Dam (author) (この著者で検索)
キーワード
Dempster–Shafer theory, evidence theory, high-entropy alloys, recommender system
刊行年月日
2021-07-19
更新時刻
2024-01-05 22:12:38 +0900
HfO2-Fig7-Work-20221213.pdf
Raw data files for Fig. 7 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:25 +0900
HfO2-Fig8-Work-20220304-2.pdf
Raw data files for Fig. 8 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:11:29 +0900
Vol.25_No.3_2019.pdf
English Translation of J. Surf. Anal. 24, 192-205(2018), Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
Auger Depth Profiling Analysis, HfO2/Si, Ultra Low Angle Incidence Ion Beam
刊行年月日
2020-06-04
更新時刻
2022-10-03 01:48:14 +0900
Vol.24_No.3_03_Ogiwara.pdf
Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
Auger Depth Profiling analysis, HfO2/Si, Ultra Low Angle Incidence Ion Beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:11:28 +0900
_最終稿版_機械学習による光電子収量分光PYSスペクトルの自動閾値予測200629.pdf
Automatic Threshold Prediction of Photoelectron Yield Spectroscopy (PYS) by Machine Learning
ジャーナル論文
著者
ORCID SAMURAI ;
YOSHITAKE, Michiko (author) (この著者で検索)
; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI
キーワード
threshold, machine learning, photoelectron yield spectroscopy
刊行年月日
2020-06-10
更新時刻
2024-01-05 22:12:44 +0900
絞り込み