ライセンス: In Copyright 資源タイプ: journal_article キーワード: GaAs(110)
全ての絞り込みを解除

1 件のレコードが見つかりました。

draft01.pdf
Quantitative characterization of built-in potential profile across GaAs p–n junctions using Kelvin probe force microscopy with qPlus sensor AFM
論文
著者
Nobuyuki Ishida SAMURAI ORCID ; Takaaki Mano SAMURAI ORCID
キーワード
GaAs(110), Kelvin probe force microscopy, p-n junction, qPlus sensor
刊行年月日
2024-02-05
更新時刻
2024-04-04 08:30:11 +0900