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論文・データセット
コレクション
FGMs Database(3)
READS: Database of Promising Adsorbents for Decontamination of Radioactive Substances(1)
READS: 放射性物質の除去・回収技術のためのデータベース(1)
資源タイプ
データセット(8)
キーワード
Auger depth profiling analysis (3)
HfO2/Si (3)
Ultra low angle incidence ion beam (3)
functionally graded materials (2)
READS (1)
Sn-perovskite, Sn-oxidation, bidentate ligand, Stability, Device (1)
cesium (1)
functionally graded materials Specimen (1)
layered silicate (1)
セシウム (1)
(more)
ライセンス
In Copyright (8)
ファイル種別
application/pdf (5)
application/vnd.openxmlformats-officedocument.spreadsheetml.sheet (3)
application/zip (3)
ライセンス: In Copyright
資源タイプ: データセット
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8 件のレコードが見つかりました。
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Cesium adsorption of layered silicates
データセット
コレクション
READS: 放射性物質の除去・回収技術のためのデータベース
,
READS: Database of Promising Adsorbents for Decontamination of Radioactive Substances
著者
Central Research Institute of Electric Power Industry
(author) (
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)
Central Research Institute of Electric Power Industry
;
Shimane University
(author) (
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Shimane University
;
Hokkaido University
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Hokkaido University
;
Iwate University
(author) (
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Iwate University
;
National Institute for Materials Science
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)
National Institute for Materials Science
;
Tokyo Metropolitan University
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Tokyo Metropolitan University
キーワード
層状ケイ酸塩
,
layered silicate
,
cesium
,
セシウム
,
READS
刊行年月日
2011-12-13
更新時刻
2022-10-03 02:05:59 +0900
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0002-7376-6571
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0002-8591-2943
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0002-7389-8865
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
YOSHIKAWA, Hideki
キーワード
Auger depth profiling analysis
,
HfO2/Si
,
Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:13:20 +0900
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0002-7376-6571
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0002-8591-2943
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0002-7389-8865
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
YOSHIKAWA, Hideki
キーワード
Auger depth profiling analysis
,
HfO2/Si
,
Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-04-07 22:57:41 +0900
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0002-7376-6571
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0002-8591-2943
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0002-7389-8865
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
YOSHIKAWA, Hideki
キーワード
Auger depth profiling analysis
,
HfO2/Si
,
Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:41 +0900
Effect of Bidentate Ligand Additive in Tin Perovskite Solar Cells
データセット
著者
Dhruba B. Khadka
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0001-9134-3890
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Dhruba B. Khadka
;
Yasuhiro Shirai
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https://orcid.org/0000-0003-2164-5468
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Yasuhiro Shirai
;
Masatoshi Yanagida
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https://orcid.org/0000-0002-8065-7875
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Masatoshi Yanagida
;
Kenjiro Miyano
(author) (
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https://orcid.org/0000-0002-5869-3087
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Kenjiro Miyano
キーワード
Sn-perovskite, Sn-oxidation, bidentate ligand, Stability, Device
刊行年月日
2023-06-11
更新時刻
2024-09-17 16:30:25 +0900
Functionally Graded Materials (2007)
データセット
コレクション
FGMs Database
著者
National Institute for Materials Science
(author) (
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)
National Institute for Materials Science
キーワード
functionally graded materials
刊行年月日
更新時刻
2022-10-03 01:48:48 +0900
Functionally Graded Materials Vol.13, 1999
データセット
コレクション
FGMs Database
著者
National Institute for Materials Science
(author) (
この著者で検索
)
National Institute for Materials Science
キーワード
functionally graded materials
刊行年月日
更新時刻
2022-10-03 02:05:39 +0900
Journal of Physics: Conference Series (Part 2)
データセット
コレクション
FGMs Database
著者
National Institute for Materials Science
(author) (
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)
National Institute for Materials Science
キーワード
functionally graded materials Specimen
刊行年月日
更新時刻
2022-10-03 02:01:15 +0900
キーワード
Auger depth profiling analysis
(3)
HfO2/Si
(3)
Ultra low angle incidence ion beam
(3)
functionally graded materials
(2)
READS
(1)
Sn-perovskite, Sn-oxidation, bidentate ligand, Stability, Device
(1)
cesium
(1)
functionally graded materials Specimen
(1)
layered silicate
(1)
セシウム
(1)
層状ケイ酸塩
(1)
RDEメタデータ定義
RDE送り状
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READS: 放射性物質の除去・回収技術のためのデータベース(1)
資源タイプ
データセット(8)
キーワード
Auger depth profiling analysis (3)
HfO2/Si (3)
Ultra low angle incidence ion beam (3)
functionally graded materials (2)
READS (1)
Sn-perovskite, Sn-oxidation, bidentate ligand, Stability, Device (1)
cesium (1)
functionally graded materials Specimen (1)
layered silicate (1)
セシウム (1)
(more)
ライセンス
In Copyright (8)
ファイル種別
application/pdf (5)
application/vnd.openxmlformats-officedocument.spreadsheetml.sheet (3)
application/zip (3)