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深冷分離法を用いたCO2/N2分離のプロセスシミュレーション
会議発表ポスター
著者
井上 瑞基 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 高分子・バイオ材料研究センター/高分子材料分野/高分子プロセス技術チーム
ORCID SAMURAI ;
ビン　イスマイル イドゥアン (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 高分子・バイオ材料研究センター/高分子材料分野/高分子プロセス技術チーム
ORCID ;
田畑 卓哉 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 高分子・バイオ材料研究センター/高分子材料分野/高分子プロセス技術チーム
;
工藤 友佑 (author) (この著者で検索)
プラントデジタルエックス株式会社
;
一ノ瀬 泉 (author) (この著者で検索)
物質・材料研究機構 高分子・バイオ材料研究センター/高分子材料分野/高分子プロセス技術チーム
ORCID SAMURAI
キーワード
CO2/N2 separation, cryogenic separation, process simulation
刊行年月日
更新時刻
2025-12-23 10:17:52 +0900
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:13:20 +0900
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-04-07 22:57:41 +0900
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:41 +0900
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-10-08 12:20:27 +0900
Raw data files for Fig. 5 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-03-30 18:50:38 +0900
Raw data files for Fig. 6 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-03-30 18:50:25 +0900
Raw data files for Fig. 7 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:25 +0900
Raw data files for Fig. 8 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:11:29 +0900
Visible-Photocatalytic performance of TiO2 particles simply achieved by surface nitridation and coatings fabricated by electrophoretic deposition (EPD) process
ジャーナル論文
著者
Chenning Zhang (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Tetsuo Uchikoshi (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
Takaya Akashi (author) (この著者で検索)
キーワード
Photocatalytic performance, TiO2, surface nitridation, electrophoretic deposition
刊行年月日
2024-05-07
更新時刻
2025-12-26 15:18:06 +0900
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