ファイル種別: application/zip 資源タイプ: データセット
全ての絞り込みを解除

55 件のレコードが見つかりました。

全ての絞り込みを解除
データセット
International XAFS DB RDF and Ontology
データセット
著者
Masashi Ishii (author) (この著者で検索)
NIMS Center for Basic Research on Materials
ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ;
Koichi Sakamoto (author) (この著者で検索)
NIMS Center for Basic Research on Materials
;
Shohei Yamashita (author) (この著者で検索)
KEK Institute of Materials Structure Science
;
Yasuhiro Niwa (author) (この著者で検索)
KEK Institute of Materials Structure Science
ORCID ;
Yasuhiro Inada (author) (この著者で検索)
Ritsumeikan University College of Life Sciences
ORCID
キーワード
International XAFS DB portal, Cross-database search, Terminology, Ontology, Semantics, RDF
刊行年月日
2025-05-01
更新時刻
2025-07-01 12:30:26 +0900
Dataset
SuperCon RDF Ver.1.2
データセット
コレクション
SuperCon Knowledge Collection
著者
Masashi Ishii (editor) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
キーワード
SuperCon, Superconductors, RDF, Ontology, Semantic Web, SPARQL
刊行年月日
更新時刻
2024-08-29 20:03:44 +0900
Dataset
SuperCon RDF Ver. 1.1
データセット
コレクション
SuperCon Knowledge Collection
著者
Masashi Ishii (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science (NIMS) Center for Basic Research on Materials
ORCID SAMURAI
キーワード
SuperCon, RDF, Semantic web, Ontology, Super conductor
刊行年月日
2023-12-31
更新時刻
2024-01-05 22:12:58 +0900
Dataset
Machine extraction of polymer data from tables using XML versions of scientific articles
データセット
著者
YOSHIZAWA, Atsushi (author) (この著者で検索)
; ORCID SAMURAI ;
SHINDO, Hiroyuki (author) (この著者で検索)
ORCID ; ORCID SAMURAI ;
MATSUMOTO, Yuji (author) (この著者で検索)
ORCID
キーワード
polymer data, table, machine extraction, informatics, XML
刊行年月日
2021-01-01
更新時刻
2024-06-21 15:45:49 +0900
HfO2-Fig9-Work-20230518.pdf
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-10-08 12:20:27 +0900
HfO2-Fig7-Work-20221213.pdf
Raw data files for Fig. 7 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:25 +0900
HfO2-Fig6-Work-20230118.pdf
Raw data files for Fig. 6 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-03-30 18:50:25 +0900
HfO2-Fig10-Work-20230606.pdf
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:41 +0900
HfO2-Fig12-Work-20230803.pdf
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:13:20 +0900
HfO2-Fig8-Work-20220304-2.pdf
Raw data files for Fig. 8 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:11:29 +0900
絞り込み