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340 件のレコードが見つかりました。
Original dataset for ID 200 Ti in Thermophysical Property Database
- データセット
- コレクション
- Thermophysical Property Original Datasets
- 著者
-
Takehiko Ishikawa
;
Masashi Ishii
- キーワード
- Ti, Metal, Drop oscillation, VELF, Electrostatic Levitation, collection - Thermophys Datasets
- 刊行年月日
- 更新時刻
- 2024-03-30 18:40:24 +0900
Metamaterial Gallery
- データセット
- 著者
-
Xiaoyang Zheng
;
Ikumu Watanabe
- キーワード
- Mechanical metamaterial, 3D geometry, Model, Negative Poisson's ratio
- 刊行年月日
- 2020-11-16
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:13:23 +0900
Python suites for high-throughput calculations of the ab-initio quantum Monte Carlo methods
- データセット
- 著者
-
NAKANO, Kosuke
;
Oto Kohulák
;
Abhishek Raghav
;
Michele Casula
;
Sandro Sorella
- キーワード
- Ab initio Quantum Monte Carlo, High-throughput calculations, TurboRVB, TurboGenius
- 刊行年月日
- 更新時刻
- 2023-11-15 15:38:36 +0900
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:13:20 +0900
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-04-07 22:57:41 +0900
SuperCon RDF Ver. 1.1
- データセット
- コレクション
- SuperCon Knowledge Collection
- 著者
-
Masashi Ishii
- キーワード
- SuperCon, RDF, Semantic web, Ontology, Super conductor
- 刊行年月日
- 2023-12-31
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:12:58 +0900
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:12:41 +0900
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-10-08 12:20:27 +0900
Original dataset for ID 199 Si-40at%Cr in Thermophysical Property Database
- データセット
- コレクション
- Thermophysical Property Original Datasets
- 著者
-
Takehiko Ishikawa
;
Masashi Ishii
- キーワード
- Si-40at%Cr, Alloy, Drop oscillation, VELF, Electrostatic Levitation, collection - Thermophys Datasets
- 刊行年月日
- 更新時刻
- 2024-03-30 18:37:46 +0900
Original dataset for ID 198 Si-10at%Y in Thermophysical Property Database
- データセット
- コレクション
- Thermophysical Property Original Datasets
- 著者
-
Takehiko Ishikawa
;
Masashi Ishii
- キーワード
- Si-10at%Y, Alloy, Drop oscillation, VELF, Electrostatic Levitation, collection - Thermophys Datasets
- 刊行年月日
- 更新時刻
- 2024-03-30 18:39:57 +0900