8 件のレコードが見つかりました。
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
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NAGATA, Takahiro
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YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:13:20 +0900
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-04-07 22:57:41 +0900
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:12:41 +0900
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-10-08 12:20:27 +0900
Raw data files for Fig. 5 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-03-30 18:50:38 +0900
Raw data files for Fig. 6 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-03-30 18:50:25 +0900
Raw data files for Fig. 7 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:12:25 +0900
Raw data files for Fig. 8 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:11:29 +0900