21 件のレコードが見つかりました。
Quantifying the Thresholds of the Phospholipid Surface Density for Nonspecific Protein Adsorption and Desorption at the Triacylglycerol/Water Interface
- データセット
- 著者
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Chiho Kataoka-Hamai (author) (この著者で検索)
- キーワード
- Lipid droplets, triacylglycerol, oil/water interface, protein
- 刊行年月日
- 2025-09-23
- 更新時刻
- 2025-09-24 16:30:26 +0900
べき乗則で解釈されるスペクトルの閾値及びべき乗数の自動解析方法
- データセット
- 著者
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柳生 進二郎 (author) (この著者で検索)物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
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吉武 道子 (author) (この著者で検索)物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
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長田 貴弘 (author) (この著者で検索)物質・材料研究機構 電子・光機能材料研究センター/機能材料分野/ナノ電子デバイス材料グループ
- キーワード
- threshold, Power Law, Automatic estimation methods
- 刊行年月日
- 2024-03-31
- 更新時刻
- 2024-04-26 16:30:10 +0900
Effect of Bidentate Ligand Additive in Tin Perovskite Solar Cells
- データセット
- 著者
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Dhruba B. Khadka (author) (この著者で検索)
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Yasuhiro Shirai (author) (この著者で検索)
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Masatoshi Yanagida (author) (この著者で検索)
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Kenjiro Miyano (author) (この著者で検索)
- キーワード
- Sn-perovskite, Sn-oxidation, bidentate ligand, Stability, Device
- 刊行年月日
- 2023-06-11
- 更新時刻
- 2024-09-17 16:30:25 +0900
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:13:20 +0900
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-04-07 22:57:41 +0900
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:12:41 +0900
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-10-08 12:20:27 +0900
Raw data files for Fig. 5 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-03-30 18:50:38 +0900
Raw data files for Fig. 6 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-03-30 18:50:25 +0900
Raw data files for Fig. 7 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
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OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:12:25 +0900