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Creative Commons BY-NC-ND Attribution-NonCommercial-NoDerivs 4.0 International (1)
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ファイル種別: application/pdf
キーワード: atom probe tomography
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2 件のレコードが見つかりました。
Mechanistic Insight into the Effect of Cu Doping on Thermoelectric Properties of Sintered Wet-Chemically Synthesized SnSe
2
Nanosheets
ジャーナル論文
著者
Simon Moore
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)
Simon Moore
;
Mari Takahashi
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0001-9252-0721
(unauthenticated)
Mari Takahashi
;
Philipp Sauerschnig
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0003-4666-5262
(unauthenticated)
Philipp Sauerschnig
;
Keiji Kobayashi
(author) (
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)
Keiji Kobayashi
;
Koichi Higashimine
(author) (
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)
Koichi Higashimine
;
Masanobu Miyata
(author) (
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)
Masanobu Miyata
;
Takahiro Baba
(author) (
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)
Takahiro Baba
;
Jun Uzuhashi
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0003-2023-8158
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Jun Uzuhashi
;
Michihiro Ohta
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0002-9093-7117
(unauthenticated)
Michihiro Ohta
;
Takao Mori
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)
https://orcid.org/0000-0003-2682-1846
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Takao Mori
;
Tadakatsu Ohkubo
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0003-3548-1951
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Tadakatsu Ohkubo
;
Shinya Maenosono
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0003-2669-8219
(unauthenticated)
Shinya Maenosono
キーワード
thermoelectric materials
,
electron microscopy
,
atom probe tomography
刊行年月日
2024-09-09
更新時刻
2025-08-26 08:30:23 +0900
Development of automated tip preparation for atom probe tomography by using script-controlled FIB-SEM
ジャーナル論文
著者
Jun Uzuhashi
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0003-2023-8158
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Jun Uzuhashi
;
Tadakatsu Ohkubo
(author) (
この著者で検索
)
https://orcid.org/0000-0003-3548-1951
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Tadakatsu Ohkubo
;
Kazuhiro Hono
(author) (
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)
https://orcid.org/0000-0001-7367-0193
National Institute for Materials Science
NIMS Researchers Directory SAMURAI
Kazuhiro Hono
キーワード
atom probe tomography
,
focused ion beam
,
scanning electron microscopy
,
automation
刊行年月日
2023-02-19
更新時刻
2025-02-23 22:51:16 +0900
キーワード
atom probe tomography
(2)
automation
(1)
electron microscopy
(1)
focused ion beam
(1)
scanning electron microscopy
(1)
thermoelectric materials
(1)
RDEメタデータ定義
RDE送り状
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