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CPDDB-README.pdf
CPDDB
データセット
コレクション
CPDDB
著者
ORCID SAMURAI ; ORCID ;
GOTO, Yumi (author) (この著者で検索)
;
SAWADA, Yukiko (author) (この著者で検索)
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HIROSE, Kiyomi (author) (この著者で検索)
キーワード
Computational thermodynamics, Phase diagram, CALPHAD
刊行年月日
2007-04-01
更新時刻
2022-10-03 01:50:26 +0900
jpscp.45.011046.pdf
Local- and Intermediate-Range Atomic Structures of (Ga 2 S 3 ) 0.25 (GeS 2 ) 0.75 Glass: Complementary Use of X-Rays and Neutrons
データセット
著者
Shinya Hosokawa (author) (この著者で検索)
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Yohei Onodera (author) (この著者で検索)
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László Pusztai (author) (この著者で検索)
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Jens Rüdiger Stellhorn (author) (この著者で検索)
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Hiroo Tajiri (author) (この著者で検索)
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Kazutaka Ikeda (author) (この著者で検索)
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Toshiya Otomo (author) (この著者で検索)
キーワード
Neutron diffraction, Anomalous X-ray scattering, Reverse Monte Carlo modeling, Glass structure
刊行年月日
2026-06-12
更新時刻
2026-06-17 10:24:46 +0900
Dataset
SuperCon RDF Ver. 1.1
データセット
コレクション
SuperCon Knowledge Collection
著者
Masashi Ishii (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science (NIMS) Center for Basic Research on Materials
ORCID SAMURAI
キーワード
SuperCon, RDF, Semantic web, Ontology, Super conductor
刊行年月日
2023-12-31
更新時刻
2024-01-05 22:12:58 +0900
Dataset
Leveraging Segmentation of Physical Units through a Newly Open Source Corpus
データセット
著者
ORCID ; ORCID ; ORCID SAMURAI ; ORCID SAMURAI ; ORCID
キーワード
刊行年月日
2019-10-25
更新時刻
2022-10-03 01:25:01 +0900
HfO2-Fig12-Work-20230803.pdf
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:13:20 +0900
HfO2-Fig11-Work-20230710.pdf
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-04-07 22:57:41 +0900
HfO2-Fig10-Work-20230606.pdf
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:41 +0900
HfO2-Fig9-Work-20230518.pdf
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-10-08 12:20:27 +0900
HfO2-Fig5-Work-20230419.pdf
Raw data files for Fig. 5 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-03-30 18:50:38 +0900
HfO2-Fig6-Work-20230118.pdf
Raw data files for Fig. 6 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-03-30 18:50:25 +0900
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