ファイル種別: application/pdf 資源タイプ: データセット
全ての絞り込みを解除

21 件のレコードが見つかりました。 1件目から10件目まで表示します。

全ての絞り込みを解除
AIST-Cs-other-jpn.pdf
Cesium adsorption by other adsorbents
データセット
コレクション
READS: 放射性物質の除去・回収技術のためのデータベース, READS: Database of Promising Adsorbents for Decontamination of Radioactive Substances
著者
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (author) (この著者で検索)
;
National Institute for Materials Science (author) (この著者で検索)
;
Central Research Institute of Electric Power Industry (author) (この著者で検索)
;
Iwate University (author) (この著者で検索)
;
University of Miyazaki (author) (この著者で検索)
キーワード
READS, セシウム, cesium
刊行年月日
2011-12-13
更新時刻
2022-10-03 01:42:18 +0900
NIMS-Sr-zeolite-jpn.pdf
Strontium adsorption by zeolites
データセット
コレクション
READS: 放射性物質の除去・回収技術のためのデータベース, READS: Database of Promising Adsorbents for Decontamination of Radioactive Substances
著者
University of Miyazaki (author) (この著者で検索)
;
Central Research Institute of Electric Power Industry (author) (この著者で検索)
;
Kanazawa Institute of Technology (author) (この著者で検索)
;
National Institute for Materials Science (author) (この著者で検索)
;
Hokkaido University (author) (この著者で検索)
キーワード
strontium, ゼオライト, ストロンチウム, zeolite, READS
刊行年月日
2011-12-13
更新時刻
2022-10-03 01:47:54 +0900
CRIEPI-Cs-zeolite-jpn.pdf
Cesium adsorption by zeolites
データセット
コレクション
READS: 放射性物質の除去・回収技術のためのデータベース, READS: Database of Promising Adsorbents for Decontamination of Radioactive Substances
著者
University of Miyazaki (author) (この著者で検索)
;
Central Research Institute of Electric Power Industry (author) (この著者で検索)
;
Hokkaido University (author) (この著者で検索)
;
Kanazawa Institute of Technology (author) (この著者で検索)
;
Iwate University (author) (この著者で検索)
;
National Institute for Materials Science (author) (この著者で検索)
キーワード
ゼオライト, zeolite, READS, セシウム, cesium
刊行年月日
2011-12-13
更新時刻
2022-10-03 02:05:28 +0900
jpscp.45.011046.pdf
Local- and Intermediate-Range Atomic Structures of (Ga 2 S 3 ) 0.25 (GeS 2 ) 0.75 Glass: Complementary Use of X-Rays and Neutrons
データセット
著者
Shinya Hosokawa (author) (この著者で検索)
;
Yohei Onodera (author) (この著者で検索)
;
László Pusztai (author) (この著者で検索)
;
Jens Rüdiger Stellhorn (author) (この著者で検索)
;
Hiroo Tajiri (author) (この著者で検索)
;
Kazutaka Ikeda (author) (この著者で検索)
;
Toshiya Otomo (author) (この著者で検索)
キーワード
Neutron diffraction, Anomalous X-ray scattering, Reverse Monte Carlo modeling, Glass structure
刊行年月日
2026-06-12
更新時刻
2026-06-17 10:24:46 +0900
HfO2-Fig12-Work-20230803.pdf
Raw data files for Fig. 12 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:13:20 +0900
HfO2-Fig11-Work-20230710.pdf
Raw data files for Fig. 11 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-04-07 22:57:41 +0900
HfO2-Fig10-Work-20230606.pdf
Raw data files for Fig. 10 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-01-05 22:12:41 +0900
HfO2-Fig9-Work-20230518.pdf
Raw data files for Fig. 9 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-10-08 12:20:27 +0900
HfO2-Fig5-Work-20230419.pdf
Raw data files for Fig. 5 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-03-30 18:50:38 +0900
HfO2-Fig6-Work-20230118.pdf
Raw data files for Fig. 6 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
データセット
著者
OGIWARA, Toshiya (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
NAGATA, Takahiro (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI ;
YOSHIKAWA, Hideki (author) (この著者で検索)
National Institute for Materials Science
ORCID SAMURAI
キーワード
Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
刊行年月日
2019-03-07
更新時刻
2024-03-30 18:50:25 +0900
絞り込み