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draft01.pdf
Quantitative characterization of built-in potential profile across GaAs p–n junctions using Kelvin probe force microscopy with qPlus sensor AFM
論文
著者
Nobuyuki Ishida SAMURAI ORCID ; Takaaki Mano SAMURAI ORCID
キーワード
GaAs(110), Kelvin probe force microscopy, p-n junction, qPlus sensor
刊行年月日
2024-02-05
更新時刻
2024-04-04 08:30:11 +0900