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Thickness Mapping and Layer Number Identification of Exfoliated van der Waals Materials by Fourier Imaging Micro-Ellipsometry
- ジャーナル論文
- 著者
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;Ralfy Kenaz (author) (この著者で検索);Saptarshi Ghosh (author) (この著者で検索);Pradheesh Ramachandran (author) (この著者で検索)Kenji Watanabe (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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Takashi Taniguchi (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science
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;Hadar Steinberg (author) (この著者で検索)Ronen Rapaport (author) (この著者で検索) - キーワード
- Spectroscopic ellipsometry, thickness mapping, transition metal dichalcogenides
- 刊行年月日
- 2023-05-23
- 更新時刻
- 2025-02-14 12:30:58 +0900
Optical constants of MgxZn1-xO
- データセット
- 著者
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Yusuke Kozuka (author) (この著者で検索)National Institute for Materials Science Research Center for Materials Nanoarchitectonics
- キーワード
- Optical constants, Spectroscopic ellipsometry, Zinc oxide
- 刊行年月日
- 2025-04-06
- 更新時刻
- 2025-04-08 11:27:45 +0900