電子分光法における表面感度と検出深さ

Journal article

Creator

田沼 繁夫 (author) (Search by this author)

https://orcid.org/0000-0003-2628-9941

統合型材料開発・情報基盤部門/材料データプラットフォームセンター/データサービスチーム, 物質・材料研究機構

NIMS Researchers Directory SAMURAI

田沼 繁夫

Keyword

surface sensitivity, mean escape depth, effective attenuation length, information depth, inelastic mean free path

Date published

2022-03-10

Updated at

2024-01-05 22:12:47 +0900