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高スループット X 線磁気円二色性（XMCD）分光法を用いて Fe–Co–Ni 組成傾斜薄膜の磁気特性の組成依存変化を体系的に解析した。オンザフライ XMCD 測定により迅速なスペクトル取得が可能となり，従来の段階走査法と比較して測定時間を約 10 分の 1 に短縮しつつ，高い精度を保持した。得られた XMCD スペクトルは Savitzky–Golay 平滑化法でノイズを除去し，XMCD 総和則を適用して元素特異的な磁気特性を抽出した。組成勾配に沿って軌道磁気モーメントとスピン磁気モーメントをマッピングすることで，軟磁性が強化された重要な組成領域を特定した。本研究は，ハイスループット放射光分光法が材料探索を加速し，機能性磁性材料の最適化に有効であることを示している。

Rights:

• Creative Commons BY Attribution 4.0 International
  

Keyword: Magnetism

Date published: 2025-12-31

Publisher: Informa UK Limited

Journal:

• Science and Technology of Advanced Materials: Methods (ISSN: 27660400) vol. 5 issue. 1 2544528

Funding:

• MEXT Program: Data Creation and Utilization-Type Material Research and Development Project JPMXP1122715503
• Japan Society for the Promotion of Science (JSPS) KAKENHI JP19H04399
• Japan Society for the Promotion of Science (JSPS) KAKENHI JP23K17145
• Japan Society for the Promotion of Science (JSPS) KAKENHI JP24K03205
• Japan Society for the Promotion of Science (JSPS) KAKENHI JP24H01685
• Japan Society for the Promotion of Science (JSPS) KAKENHI JP24K17603
• MEXT Quantum Leap Flagship Program JPMXS0118068681]
• Japan Science and Technology Agency

Manuscript type: Publisher's version (Version of record)

MDR DOI:

First published URL: https://doi.org/10.1080/27660400.2025.2544528

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Updated at: 2025-09-08 12:30:29 +0900

Published on MDR: 2025-09-08 12:18:17 +0900