Shohei Miyagawa
;
Yuta Ishii
(National Institute for Materials Science)
;
Masato Anada
;
Kazuki Nagai
;
Miho Kitamura
;
Hiroshi Kumigashira
;
Yusuke Wakabayashi
Description:
(abstract)LaMnO₃(LMO)超薄膜と、NbをドープしたSrTiO₃(STO)基板および非ドープSTO基板との界面における局所的な分極と電荷移動を、共鳴表面X線回折を用いて調査した。この「光子入射-光子放出」技術では、放射線損傷を最小限に抑えながら、価数分布と局所分極を同時に解析することが可能である。これにより、基板と薄膜の界面にMn²⁺が存在することが確認された。さらに、電荷移動の程度はNbドープの有無にほとんど依存しないことが分かった。一方、LMO薄膜の中央部ではMnの価数は3+を示した。局所分極の測定結果によると、LMO薄膜内部では電場が外向きに指向しており、STO基板領域では分極が抑制されていることが明らかになった。
Rights:
Copyright 2025 Author(s). This article is distributed under a Creative Commons Attribution (CC BY) License.
Keyword: CTR scattering
Date published: 2025-03-28
Publisher: AIP Publishing
Journal:
Funding:
Manuscript type: Author's version (Accepted manuscript)
MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.5439
First published URL: https://doi.org/10.1063/5.0258175
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Updated at: 2025-04-20 17:34:36 +0900
Published on MDR: 2025-04-20 17:17:38 +0900
| Filename | Size | |||
|---|---|---|---|---|
| Filename |
1871341_1_art_file_25089319_ss9w5n.pdf
(Thumbnail)
application/pdf |
Size | 655 KB | Detail |