Article Non-destructive measurement of the charge transfer across LaMnO3/SrTiO3 interfaces

Shohei Miyagawa ; Yuta Ishii SAMURAI ORCID (National Institute for Materials Science) ; Masato Anada ; Kazuki Nagai ; Miho Kitamura ; Hiroshi Kumigashira ; Yusuke Wakabayashi

Collection

Citation
Shohei Miyagawa, Yuta Ishii, Masato Anada, Kazuki Nagai, Miho Kitamura, Hiroshi Kumigashira, Yusuke Wakabayashi. Non-destructive measurement of the charge transfer across LaMnO3/SrTiO3 interfaces. Journal of Applied Physics. 2025, 137 (12), 125303. https://doi.org/10.1063/5.0258175

Description:

(abstract)

LaMnO₃(LMO)超薄膜と、NbをドープしたSrTiO₃(STO)基板および非ドープSTO基板との界面における局所的な分極と電荷移動を、共鳴表面X線回折を用いて調査した。この「光子入射-光子放出」技術では、放射線損傷を最小限に抑えながら、価数分布と局所分極を同時に解析することが可能である。これにより、基板と薄膜の界面にMn²⁺が存在することが確認された。さらに、電荷移動の程度はNbドープの有無にほとんど依存しないことが分かった。一方、LMO薄膜の中央部ではMnの価数は3+を示した。局所分極の測定結果によると、LMO薄膜内部では電場が外向きに指向しており、STO基板領域では分極が抑制されていることが明らかになった。

Rights:

Keyword: CTR scattering

Date published: 2025-03-28

Publisher: AIP Publishing

Journal:

  • Journal of Applied Physics (ISSN: 00218979) vol. 137 issue. 12 125303

Funding:

  • Japan Society for the Promotion of Science JP22H02024
  • Japan Society for the Promotion of Science JP23K23292

Manuscript type: Author's version (Accepted manuscript)

MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.5439

First published URL: https://doi.org/10.1063/5.0258175

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Updated at: 2025-04-20 17:34:36 +0900

Published on MDR: 2025-04-20 17:17:38 +0900

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