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コレクション

引用

説明:

特集号「ナノプローブ国際標準化の現状とその将来展望」の特集記事として、走査型プローブ顕微鏡分野における用語，試料の取扱い及びデータ転送フォーマットに関する国際標準化の現状とその将来展望について解説する。

権利情報:

• In Copyright
  ©公益社団法人 日本表面真空学会

キーワード: scanning probe microscopy, international standardization, terminology, sample handling, data management

刊行年月日: 2025-01-10

出版者: Surface Science Society Japan

掲載誌:

• Vacuum and Surface Science (ISSN: 24335835) vol. 68 issue. 1 p. 26-30 20181402

研究助成金:

原稿種別: 著者最終稿 (Accepted manuscript)

MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.5402

公開URL: https://doi.org/10.1380/vss.68.26

関連資料:

その他の識別子:

連絡先:

更新時刻: 2025-04-02 17:36:45 +0900

MDRでの公開時刻: 2025-04-03 14:10:58 +0900