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特集号「ナノプローブ国際標準化の現状とその将来展望」の特集記事として、走査型プローブ顕微鏡分野における用語，試料の取扱い及びデータ転送フォーマットに関する国際標準化の現状とその将来展望について解説する。

Rights:

• In Copyright
  ©公益社団法人 日本表面真空学会

Keyword: scanning probe microscopy, international standardization, terminology, sample handling, data management

Date published: 2025-01-10

Publisher: Surface Science Society Japan

Journal:

• Vacuum and Surface Science (ISSN: 24335835) vol. 68 issue. 1 p. 26-30 20181402

Funding:

Manuscript type: Author's version (Accepted manuscript)

MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.5402

First published URL: https://doi.org/10.1380/vss.68.26

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Updated at: 2025-04-02 17:36:45 +0900

Published on MDR: 2025-04-03 14:10:58 +0900