石井真史
(統合型材料開発・情報基盤部門, 国立研究開発法人物質・材料研究機構)
代替タイトル: Measurement Informatics and Machine Learning
説明:
(abstract)計測に機械学習など、統計的な手法を導入するときの共通課題を、関連技術の歴史を織り交ぜつつ解説します。材料が持つ物理・化学的コンテキストの多様性と、本来計測が持つべき汎化性を評価軸にして、代表的な手法の位置づけと応用における制約を考え、計測インフォマティクスを材料開発などに展開する上での、知識基盤やデータ連携の重要性に言及します。
権利情報:
キーワード: 計測インフォマティクス, 機械学習, コンテキスト, 特徴量, クラスタリング, 分類, 照合
刊行年月日:
出版者: 応用物理学会
掲載誌:
研究助成金:
原稿種別: 著者最終稿 (Accepted manuscript)
MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.3866
公開URL: https://doi.org/10.11470/oubutsu.92.2_108
関連資料:
その他の識別子:
連絡先:
更新時刻: 2024-01-05 22:12:37 +0900
MDRでの公開時刻: 2023-03-02 13:14:26 +0900
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ファイル名 |
基礎講座_MDR登録版.pdf
(サムネイル)
application/pdf |
サイズ | 1.18MB | 詳細 |