石井真史
(統合型材料開発・情報基盤部門, 国立研究開発法人物質・材料研究機構)
Alternative title: Measurement Informatics and Machine Learning
Description:
(abstract)計測に機械学習など、統計的な手法を導入するときの共通課題を、関連技術の歴史を織り交ぜつつ解説します。材料が持つ物理・化学的コンテキストの多様性と、本来計測が持つべき汎化性を評価軸にして、代表的な手法の位置づけと応用における制約を考え、計測インフォマティクスを材料開発などに展開する上での、知識基盤やデータ連携の重要性に言及します。
Rights:
Keyword: 計測インフォマティクス, 機械学習, コンテキスト, 特徴量, クラスタリング, 分類, 照合
Date published:
Publisher: 応用物理学会
Journal:
Funding:
Manuscript type: Author's version (Accepted manuscript)
MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.3866
First published URL: https://doi.org/10.11470/oubutsu.92.2_108
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Updated at: 2024-01-05 22:12:37 +0900
Published on MDR: 2023-03-02 13:14:26 +0900
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