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軟X線領域における部分蛍光収率X線吸収微細構造（PFY-XAFS）分光法は、試料のバルク領域に関する情報を得る上で重要である。しかしながら、自己吸収効果はPFY-XAFSスペクトルの微細構造に歪みを引き起こす深刻な問題である。この自己吸収は平坦な表面では解析的に補正可能だが、粉末中の粒子のような任意形状では不可能である。本研究では、任意形状の試料を小さな箱（ボクセルと呼ぶ）に分割して自己吸収効果を計算するボクセル法を提案する。CoO単結晶、NiO基板上のLi₂CO₃薄膜、CoO粉末試料のO KエッジPFY-XAFSスペクトルを比較することで、ボクセル法の有効性とその利点・限界を検証する。

Rights:

• Creative Commons BY Attribution 4.0 International
  

Keyword: Soft X-ray PFY-XAFS; Self-absorption; Voxel method

Date published: 2025-03-01

Publisher: Surface Science Society Japan

Journal:

• e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (ISSN: 13480391) vol. 23 issue. 1 p. 36-43 2025-010

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Manuscript type: Publisher's version (Version of record)

MDR DOI:

First published URL: https://doi.org/10.1380/ejssnt.2025-010

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Updated at: 2025-12-26 10:46:55 +0900

Published on MDR: 2025-12-26 12:20:46 +0900