A Voxel Method for Correcting the Self-absorption Effect in Fluorescence X-ray Absorption Fine Structure Spectra

Daisuke Shibata; Toshiaki Ohta; Yuki Orikasa; Kimihiko Ito; Kiyotaka Asakura

doi:10.1380/ejssnt.2025-010

論文 A Voxel Method for Correcting the Self-absorption Effect in Fluorescence X-ray Absorption Fine Structure Spectra

Daisuke Shibata ; Toshiaki Ohta ; Yuki Orikasa ; Kimihiko Ito (National Institute for Materials Science) ; Kiyotaka Asakura

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コレクション

引用

Daisuke Shibata, Toshiaki Ohta, Yuki Orikasa, Kimihiko Ito, Kiyotaka Asakura. A Voxel Method for Correcting the Self-absorption Effect in Fluorescence X-ray Absorption Fine Structure Spectra. e-Journal of Surface Science and Nanotechnology. 2025, 23 (1), 2025-010. https://doi.org/10.1380/ejssnt.2025-010

(BibTeX)

説明:

(abstract)

軟X線領域における部分蛍光収率X線吸収微細構造（PFY-XAFS）分光法は、試料のバルク領域に関する情報を得る上で重要である。しかしながら、自己吸収効果はPFY-XAFSスペクトルの微細構造に歪みを引き起こす深刻な問題である。この自己吸収は平坦な表面では解析的に補正可能だが、粉末中の粒子のような任意形状では不可能である。本研究では、任意形状の試料を小さな箱（ボクセルと呼ぶ）に分割して自己吸収効果を計算するボクセル法を提案する。CoO単結晶、NiO基板上のLi₂CO₃薄膜、CoO粉末試料のO KエッジPFY-XAFSスペクトルを比較することで、ボクセル法の有効性とその利点・限界を検証する。

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