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(abstract)

室温でゼオライトの一種であるシリカライト(SiO2)の室温で圧縮すると高密度することを見出した。このX線回折パターンは室温で同じ圧力で圧縮したシリカ(SiO2)ガラスのパターンと酷似しており、また両者の密度は同じとなった。しかし、前者は永久高密度化しているのに対して、後者は永久高密度していなかった。シリカライト結晶を高密度化して圧縮してアモルファスになったものは、結晶のトポロジーを維持していることが示唆された。

Rights:

• In Copyright
  

Keyword: ゼオライト, トポロジー

Date published: [2024年]

Publisher: ニューガラスフォーラム

Journal:

• New Glass 141 (ISSN: 09146563) vol. 39 issue. 1

Funding:

Manuscript type: Author's version (Accepted manuscript)

MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.4682

First published URL: https://www.newglass.jp/mag/TITL/maghtml/141.html

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Updated at: 2024-08-26 12:30:45 +0900

Published on MDR: 2024-08-26 12:30:45 +0900