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コレクション

引用

代替タイトル: ダイヤモンドの結合エネルギーのXPS評価におけるAu 4fを用いた補正

説明:

X線光電子分光法を用いた表面バンドベンディング評価では材料表面の炭素汚染に由来するC 1sピーク（284.8 eV）を使って補正されるが、ダイヤモンド表面の場合ダイヤモンドからもC 1sピークが現れるためダイヤモンドの結合エネルギーをすることはできない。その結果、正確な結合エネルギーの測定が難しく、酸化物/ダイヤモンドヘテロ接合における界面バンドベンディングを決定するのも困難であった。本研究では、ホウ素ドープダイヤモンドに金のネットマスクを取り付けてチャージアップ効果を抑え、標準的なAu 4fピーク（83.96 eV）を用いることにより、結合エネルギーを補正した。このアプローチにより、Al2O3/ダイヤモンドヘテロ接合の界面バンドベンディングを可視化することに成功した。

権利情報:

• In Copyright
  

キーワード: diamond

刊行年月日: [2025年4月]

出版者: 一般社団法人　ニューダイヤモンドフォーラム

掲載誌:

• New diamond (ISSN: 13404792) vol. 41 issue. 2 p. 33-35

研究助成金:

原稿種別: 出版者版 (Version of record)

MDR DOI:

公開URL: https://jndf.org/katsudo/kaishi/saishingo.html

関連資料:

その他の識別子:

連絡先:

更新時刻: 2025-05-07 16:30:15 +0900

MDRでの公開時刻: 2025-05-07 16:19:54 +0900