Article 多次元X線計測と情報科学

永村 直佳 SAMURAI ORCID (マテリアル基盤研究センター/先端解析分野/光電子分光グループ, 物質・材料研究機構)

Collection

Citation
永村 直佳. 多次元X線計測と情報科学. 光学. , 54 (8), . https://doi.org/10.48505/nims.6148

Description:

(abstract)

放射光施設の世界的な第4世代化に伴い、超高輝度プローブ光を利用して、多くのパラメータを掃引する多次元X線分光計測が可能になった。必然的に計測データ量は増大し、解析処理と計測プロセス設計の高速化・高効率化が喫緊の課題となっている。本稿では、その解決策として、データ駆動科学の考え方に基づき、AIを活用したデータ処理技術を紹介する。具体的には、著者らが開発した、教師なし機械学習を用いたスペクトルのハイスループット自動解析、スパースモデリングを用いた高解像度画像推定について解説する。

Rights:

Keyword: multi-dimensional, X-ray spectroscopy, data-driven science, machine learning, sparce modeling

Date published: [2025年8月]

Publisher: 一般社団法人 日本光学会

Journal:

  • 光学 (ISSN: 03896625) vol. 54 issue. 8

Funding:

  • JST JPMJPR17NB,JPMJPR17N2, JPMJPR20T7 (PRESTO)
  • JST JPMJCR1761,JPMJCR21O1, JPMJCR21O4, JPMJCR2235 (CREST)
  • JST JPMJMI21G2 (みらい)
  • JST 19H02561, 21H01638, 21H04696, 25K01628 (科研費)
  • METI P16010 (NEDO)
  • ATLA JPJ004596 (Security Technology Research Promotion Program)

Manuscript type: Author's version (Accepted manuscript)

MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.6148

First published URL: https://myosj.or.jp/kogaku/backnumber/54-08/

Related item:

Other identifier(s):

Contact agent:

Updated at: 2026-01-20 10:11:08 +0900

Published on MDR: 2026-01-20 12:22:55 +0900

Filename Size
Filename 光学NN.pdf (Thumbnail)
application/pdf
Size 1.44 MB Detail