永村 直佳
(マテリアル基盤研究センター/先端解析分野/光電子分光グループ, 物質・材料研究機構)
説明:
(abstract)放射光施設の世界的な第4世代化に伴い、超高輝度プローブ光を利用して、多くのパラメータを掃引する多次元X線分光計測が可能になった。必然的に計測データ量は増大し、解析処理と計測プロセス設計の高速化・高効率化が喫緊の課題となっている。本稿では、その解決策として、データ駆動科学の考え方に基づき、AIを活用したデータ処理技術を紹介する。具体的には、著者らが開発した、教師なし機械学習を用いたスペクトルのハイスループット自動解析、スパースモデリングを用いた高解像度画像推定について解説する。
権利情報:
キーワード: multi-dimensional, X-ray spectroscopy, data-driven science, machine learning, sparce modeling
刊行年月日: [2025年8月]
出版者: 一般社団法人 日本光学会
掲載誌:
研究助成金:
原稿種別: 著者最終稿 (Accepted manuscript)
MDR DOI: https://doi.org/10.48505/nims.6148
公開URL: https://myosj.or.jp/kogaku/backnumber/54-08/
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連絡先:
更新時刻: 2026-01-20 10:11:08 +0900
MDRでの公開時刻: 2026-01-20 12:22:55 +0900