資源タイプ: journal_article キーワード: number of valence electrons
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Calculation of Electron Inelastic Mean Free Paths (IMFPs). VII. Reliability of the TPP-2M IMFP Predictive Equation
論文
著者
Tanuma, Shigeo SAMURAI ORCID ; Powell, C. J. ORCID ; Penn, D. R.
キーワード
IMFP, TPP-2M, number of valence electrons, elemental solids, XPS, electron inelastic mean free paths, surface sensitivity, IMFPs, AES, surface analysis
刊行年月日
2003-02-11
更新時刻
2022-10-03 01:54:38 +0900