Robust Preparation of Sub‐20‐nm‐Thin Lamellae for Aberration‐Corrected Electron Microscopy

論文

著者

Hideyo Tsurusawa ; Jun Uzuhashi ; Yusuke Kozuka ; Koji Kimoto ; Tadakatsu Ohkubo

キーワード

TEM, FIB, Automation

刊行年月日

2024-02-22

更新時刻

2024-05-03 08:30:11 +0900