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14 件のレコードが見つかりました。
Characterization of δNi<sub>2</sub>Si Precipitates in Cu-Ni-Si Alloy by Small-Angle X-ray Scattering, Small-Angle Neutron Scattering, and Atom Probe Tomography
論文
著者
Hirokazu Sasaki ; Syunta Akiya ; Kuniteru Mihara ; Yojiro Oba ; Masato Onuma ;
Jun Uzuhashi
;
Tadakatsu Ohkubo
キーワード
atom probe tomography
刊行年月日
2025-01-01
更新時刻
2025-01-08 16:31:18 +0900
On the correlative microscopy analyses of nano-twinned domains in 2 mol % zirconia alloyed yttrium tantalate thermal barrier material
論文
著者
K. Gururaj ;
Mainak Saha
; Sumit Kumar Maurya ; Rajat Nama ; A. Alankar ; M.B. Ponnuchamy ; K.G. Pradeep
キーワード
Correlative microscopy
,
Ferroelastic transformation
,
Nanotwins
,
transmission Kikuchi diffraction
,
atom probe tomography
刊行年月日
2022-02-09
更新時刻
2024-10-08 11:52:48 +0900
Atomic-Scale Multimodal Characterization of Self-Assembled InAs/InGaAlAs Quantum Dots
論文
著者
Yudai Yamaguchi ; Yuta Inaba ; Ryoji Arai ; Yuya Kanitani ; Yoshihiro Kudo ; Michinori Shiomi ; Daiji Kasahara ; Mikihiro Yokozeki ; Noriyuki Fuutagawa ;
Jun Uzuhashi
;
Tadakatsu Ohkubo
;
Kazuhiro Hono
; Kouichi Akahane ; Naokatsu Yamamoto ; Shigetaka Tomiya
キーワード
quantum dot
,
atom probe tomography
,
transmission electron microscopy
刊行年月日
2024-04-11
更新時刻
2024-07-18 10:07:38 +0900
Impact of Sequential N Ion Implantation on Extended Defects and Mg Distribution in Mg Ion‐Implanted GaN
論文
著者
Emi Kano
;
Jun Uzuhashi
; Koki Kobayashi ; Kosuke Ishikawa ; Kyosuke Sawabe ; Tetsuo Narita ; Kacper Sierakowski ; Michal Bockowski ;
Tadakatsu Ohkubo
; Tetsu Kachi ;
Nobuyuki Ikarashi
キーワード
gallium nitride
,
atom probe tomography
,
transmission electron microscopy
刊行年月日
2024-04-22
更新時刻
2024-09-20 16:30:27 +0900
Effect of sequential N ion implantation in the formation of a shallow Mg-implanted p-type GaN layer
論文
著者
Jun Uzuhashi
;
Jun Chen
; Ryo Tanaka ; Shinya Takashima ; Masaharu Edo ;
Tadakatsu Ohkubo
; Takashi Sekiguchi
キーワード
gallium nitride
,
atom probe tomography
,
transmission electron microscopy
,
cathodoluminescence
刊行年月日
2024-08-07
更新時刻
2024-08-03 08:30:15 +0900
Vacancy-Type Defects and Oxygen Incorporation in NiAl for Advanced Interconnects Probed by Monoenergetic Positron Beams and Atom Probe Tomography
論文
著者
Akira Uedono
;
Claudia Fleischmann
; Jean-Philippe Soulié ; Mustafa Ayyad ;
Jeroen E. Scheerder
; Christoph Adelmann ;
Jun Uzuhashi
;
Tadakatsu Ohkubo
;
Koji Michishio
; Nagayasu Oshima ;
Shoji Ishibashi
キーワード
atom probe tomography
,
positron annihilation
刊行年月日
更新時刻
2024-07-12 11:49:27 +0900
An Automated Site-Specific Tip Preparation Method for Atom Probe Tomography Using Script-Controlled Focused Ion Beam/Scanning Electron Microscopy
論文
著者
Jun Uzuhashi
;
Tadakatsu Ohkubo
;
Kazuhiro Hono
キーワード
atom probe tomography
,
focused ion beam
,
scanning electron microscopy
刊行年月日
2025-02-03
更新時刻
2024-09-05 08:30:18 +0900
Heating rate dependence of coercivity and microstructure of Fe–B–P–Cu nanocrystalline soft magnetic materials
論文
著者
Yohei Nomura ;
Jun Uzuhashi
; Tatsuya Tomita ; Toru Takahashi ; Hidenori Kuwata ;
Taichi Abe
;
Tadakatsu Ohkubo
;
Kazuhiro Hono
キーワード
atom probe tomography
刊行年月日
2020-11-06
更新時刻
2024-04-05 10:56:21 +0900
Development of p-type Ion Implantation Technique for Realization of GaN Vertical MOSFETs
プロシーディングス
著者
Ryo Tanaka ; Shinya Takashima ; Katsunori Ueno ; Masahiro Horita ; Jun Suda ;
Jun Uzuhashi
;
Tadakatsu Ohkubo
; Masaharu Edo
キーワード
gallium nitride
,
atom probe tomography
,
transmission electron microscopy
刊行年月日
2023-06-08
更新時刻
2024-04-19 12:30:23 +0900
X線・中性子小角散乱法及び3次元アトムプローブ法による Cu-Ni-Si合金中のδNi2Si析出相の解析
論文
著者
佐々木 宏和 ; 秋谷 俊太 ; 三原 邦照 ; 大場 洋次郎 ; 大沼 正人 ;
埋橋 淳
;
大久保 忠勝
キーワード
atom probe tomography
,
transmission electron microscopy
,
Corson alloy
刊行年月日
更新時刻
2024-01-30 09:51:05 +0900
キーワード
atom probe tomography
(14)
transmission electron microscopy
(7)
gallium nitride
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cathodoluminescence
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