放射光X線CT技術を駆使した高信頼性電子デバイス材料設計のための3次元解析:積層セラミックコンデンサ(MLCC)の電極構造形成プロセス

Journal article

Creator

大熊 学 (author) (Search by this author)

https://orcid.org/0000-0002-2997-9166

構造材料研究センター/材料創製分野/セラミックス基複合材料グループ, 物質・材料研究機構

NIMS Researchers Directory SAMURAI

大熊 学 ;

若井 史博 (author) (Search by this author)

https://orcid.org/0000-0002-8391-139X

構造材料研究センター/材料創製分野/セラミックス基複合材料グループ, 物質・材料研究機構

NIMS Researchers Directory SAMURAI

若井 史博

Keyword

X-ray nano computed tomography, multi-layer ceramic capacitors (MLCC), sintering, microstructure

Date published

2024-07-15

Updated at

2024-07-25 08:30:21 +0900