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ライセンス: In Copyright キーワード: atomic force microscopy
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2 件のレコードが見つかりました。

IslandMovie.mp4
Structure and Defect Identification at Self-Assembled Islands of CO2 Using Scanning Probe Microscopy
論文
著者
Oscar Custance SAMURAI ORCID ; Emiliano Ventura-Macias ; Oleksandr Stetsovych ; Carlos Romero-Muñiz ORCID ; Tomoko K. Shimizu ORCID ; Pablo Pou ORCID ; Masayuki Abe ORCID ; Hironobu Hayashi SAMURAI ORCID ; Tadakatsu Ohkubo SAMURAI ORCID ; Shigeki Kawai SAMURAI ORCID ; Ruben Perez ORCID
キーワード
CO2 islands, 1,4-phenylene diisocyanide, chirality, metal organic chains, atomic force microscopy, scanning tunneling microscopy, density functional theory
刊行年月日
2024-10-01
更新時刻
2025-09-17 08:30:31 +0900

Kawai_表面と真空_vol67_2024_MDR.doc
走査型プローブ顕微鏡によるグラフェンの超潤滑現象の観察とメカニズム解明
論文
著者
川井 茂樹 SAMURAI ORCID
キーワード
Superlubricity, atomic force microscopy, on-surface synthesis, graphene nanoribbon, low temperature
刊行年月日
2024-06-10
更新時刻
2024-06-26 12:30:09 +0900

キーワード
  • atomic force microscopy (2)
  • 1,4-phenylene diisocyanide (1)
  • CO2 islands (1)
  • Superlubricity (1)
  • chirality (1)
  • density functional theory (1)
  • graphene nanoribbon (1)
  • low temperature (1)
  • metal organic chains (1)
  • on-surface synthesis (1)
  • scanning tunneling microscopy (1)
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