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Characterization of wide-gap semiconductors by photothermal deflection spectroscopy
- 論文
- 著者
-
Masatomo Sumiya
- キーワード
- III-V nitride semiconductor, photothermal deflection spectroscopy, defect
- 刊行年月日
- 2023-11-01
- 更新時刻
- 2024-12-10 16:56:31 +0900