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376 件のレコードが見つかりました。
Sample data for X-ray visualization of local bending of the lattice planes (XR-V-LBLP)
- データセット
- 著者
-
YAGYU, Shinjiro
- キーワード
- X-ray diffraction topography
- 刊行年月日
- 2023-03-27
- 更新時刻
- 2023-03-27 16:02:33 +0900
Continuous real-time O 1s core XPS spectra of H2O adsorption on +c Ga-face and m-plane surfaces of GaN
- データセット
- 著者
-
SUMIYA, Masatomo
- キーワード
- GaN, Gallium nitride, Surface oxidation, Oxidation, MOS structure, XPS, SPring-8
- 刊行年月日
- 2022-12-31
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:11:14 +0900
Raw data files for Fig. 6 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-03-30 18:50:25 +0900
Continuous real-time O 1s core XPS spectra of initial O2 molecule adsorption on polar and m-plane surfaces of GaN
- データセット
- 著者
-
SUMIYA, Masatomo
- キーワード
- GaN, Gallium nitride, Oxidation, Adsorption, XPS, SPring-8
- 刊行年月日
- 2020-11-19
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:13:22 +0900
MaterialBERT for Natural Language Processing of Materials Science Texts
- 論文
- 著者
-
KAWANO, Hiroyuki
;
SATO, Fumitaka
;
YOSHITAKE, Michiko
;
MOTEKI, Fuma
;
TERAOKA, Hiroshi
- キーワード
- word embedding, pre-training, BERT, literal information
- 刊行年月日
- 更新時刻
- 2025-04-15 08:30:11 +0900
Raw data files for Fig. 7 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:12:25 +0900
MDR SuperCon Datasheet Ver.220808
- データセット
- コレクション
- MDR SuperCon Datasheet
- 著者
- Materials Database Group
- キーワード
- SuperCon, Superconductors, Oxide, Metallic, Organic, Tc
- 刊行年月日
- 更新時刻
- 2023-12-25 00:30:40 +0900
Raw data files for Fig. 8 Auger depth profiles in "Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion Beam"
- データセット
- 著者
-
OGIWARA, Toshiya
;
NAGATA, Takahiro
;
YOSHIKAWA, Hideki
- キーワード
- Auger depth profiling analysis, HfO2/Si, Ultra low angle incidence ion beam
- 刊行年月日
- 2019-03-07
- 更新時刻
- 2024-01-05 22:11:29 +0900
Original data for Fig.4.8 in a NIMS Monograph titled "fiber fuse"
- データセット
- 著者
-
TODOROKI, Shin-ichi
- キーワード
- fiber fuse, void formation
- 刊行年月日
- 2014-05-22
- 更新時刻
- 2022-10-17 01:16:54 +0900
MDR XAFS DB Readme
- その他
- コレクション
- MDR XAFS DB
- 著者
-
ISHII, Masashi
;
SHIMIZU, Miharu
- キーワード
- XAFS, collection - MDR XAFS DB
- 刊行年月日
- 2022-06-14
- 更新時刻
- 2025-05-02 21:49:40 +0900